简介和概述

事件检测器（Event Detector）支持对电气互连可靠性测试（包括焊点可靠性测试）日益增长的需求。电气互连设计正在不断发展，以响应成本、密度和可靠性的考虑。此外，由于热/机械循环、冲击和振动，许多电子系统的运行环境变得更加恶劣。互连可靠性测试是确保电子系统稳健并避免因电气互连故障而导致系统过早故障的重要环节。此类测试的重要性日益增加，使 Analysis Tech 成为封装可靠性测试系统的领导者。

事件检测器（Event Detector）对测试样品进行电气监控，以检测加速老化或压力测试期间的短时间电阻变化。在集成软件控制下，持续监测大量通道的亚微秒（至纳秒）电阻变化。这种类型的测试对于确保电信、汽车、航空航天和医疗行业的互连可靠性至关重要。所有分析技术事件检测器（Event Detector）均符合 JEDEC 标准 JESD 22-B111（取决于设置）。STD 事件检测器（Event Detector）符合 IPC 标准 IPC-SM-785 和 IPC-9701，用于焊点可靠性测试。

这些交钥匙多通道系统提供：

• 广泛的测试规格
• 自动数据收集和分析
• 对错误故障数据的强大抗扰度

测试的典型互连类型：

• 表面贴装焊点
• 可分离/配接连接器
• 机电继电器
• 非焊接电气连接
• 柔性电缆和柔性印刷电路

典型环境测试条件：

• 热循环
• 跌落测试/冲击
• 机械弯曲
• 振动
• 插拔/拔插循环

典型行业应用：

• 电信
• 汽车
• 航空 航天
• 军事
• 医疗（植入物）

应力引起的裂纹扩展、微运动、热效应、冶金反应、化学反应和微动腐蚀现象可能导致电气互连退化和故障。这些影响通常通过压力测试或加速老化来研究，同时监测互连的电阻变化。电气故障发生的最初表现通常是短时间的电阻变化。这种波动可能会导致使用此类互连的现代高速电路出现故障。

Analysis Tech事件检测器（Event Detector）涵盖从 1 纳秒到 10 毫秒的测试要求范围，从 10 毫欧到 10 兆欧的电阻，从 10 微安到 100 毫安及以上的询问电流。Analysis Tech 还提供完整的集成实验室测试系统。具有多达 1024 个通道的交钥匙系统可用于长期、无人值守的测试。我们邀请对新的或定制仪器的请求，以服务我们现有标准产品尚未涵盖的测试规范。事件检测器（Event Detector）的其他常见名称包括：连接器可靠性测试仪、颤振检测器、毛刺检测器、焊点测试仪、焊点可靠性测试仪、焊锡可靠性测试仪和互连可靠性测试仪。